基于甚近场扫描的天线测量

现代ICT测试2021-11-22 13:04:16

编者注:针对未来5G天线的巨大测试工作量,在提高测试速度、降低测试成本方面,基于甚近场扫描的测量是一种不依赖微波暗室的、便捷的选择。